分子模拟结合和频光谱技术探测有机薄膜界面微观结构
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更新:2026-03-27 17:55:33 浏览:32次
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摘要
界面化学现象在现代化学和化学工程中起着重要作用。然而,由于缺乏精准探测界面的技术,对界面的探测和微观理解仍然十分有限。近年来,和频(SFG)光谱技术已被证明是一种强有力的界面探测手段,并在多种界面体系中提供了宝贵的信息。然而,对于复杂界面体系,实验获得的SFG光谱在解谱以及与微观结构对应上仍存在困难,因此迫切需要可靠的理论支持。
在理论研究方面,SFG的模拟研究的发展速度仍明显落后于SFG实验研究。目前,大多数关于SFG光谱的理论研究主要集中在水相界面及O–H伸缩振动领域。而对于有机界面,例如有机单分子层界面,由于缺乏能够精确计算SFG光谱的分子力场模型,相关研究仍然非常有限。为此,本研究发展了有机界面的分子模型与光谱的理论计算方法。通过构建高精度极化力场模型并开展分子模拟,实现了有机界面的结构与SFG光谱的同时计算。结合实验研究,对复杂SFG光谱进行分解,并提取有机界面的微观信息。本工作将介绍典型的有机分子界面的SFG光谱模拟的方法以及不同振动领域(C-H, C=O等)SFG光谱的定量分析方法,以及电四极矩的贡献等,并介绍近期在有机单分子层界面SFG模拟的工作。
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