[邀请报告]电子封装用SiCp/2024Al表面微弧氧化涂层组织结构与电绝缘性能

电子封装用SiCp/2024Al表面微弧氧化涂层组织结构与电绝缘性能
编号:285 稿件编号:194 访问权限:仅限参会人 更新:2026-03-29 21:48:50 浏览:40次 邀请报告

报告开始:2026年04月28日 14:10 (Asia/Shanghai)

报告时间:20min

所在会议:[N] 微弧氧化及电化学沉积技术论坛 » [N2] N下午场

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摘要
碳化硅颗粒增强铝基复合材料(SiCp/Al)因兼具高导热、低热膨胀、高刚度和低密度等优异性能,在电子封装散热基板及航空航天结构部件中具有广阔应用前景。然而,然而,传统陶瓷层与SiCp/Al基板通过钎焊连接形成的多层封装结构,易因层间热膨胀系数失配引发分层、开裂等失效,进而降低器件的电绝缘性、耐腐蚀性和散热可靠性。针对上述问题,本文提出了一种基于微弧氧化及反应共沉积技术的原位一体化结构设计策略,在导热SiCp/2024Al基板表面原位构建绝缘陶瓷涂层,实现基板与陶瓷层的冶金结合与一体化集成。首先,通过提高涂层致密性来提升电绝缘性,采用微弧氧化软火花模式在基础电解液中构建了高致密Al2O3-mullite陶瓷涂层,研究了软火花放电对涂层致密生长的影响与作用机理;为进一步提高电绝缘性,通过在基础电解液中引入高电绝缘hBN纳米颗粒,构建了反应共沉积BN/B2O3-SiO2-Al2O3复合涂层,解决了Al2O3-mullite陶瓷涂层击穿电压提升有限的问题;最后,选择SiCp/2024Al 基板表面微弧氧化绝缘涂层与导电银浆互连,验证封装结构可行性。
关键字
SiCp/Al复合材料,微弧氧化,电绝缘涂层
报告人
蒋春燕
助理研究员 东南大学

稿件作者
蒋春燕 东南大学
王亚明 哈尔滨工业大学
费庆国 东南大学
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