氮化铝基压电薄膜型声表面波传感器仿真优化与制备表征研究
编号:303
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更新:2026-03-31 08:51:22 浏览:39次
口头报告
摘要
针对传统压电单晶型声表面波(SAW)传感器存在的体积大、工艺兼容性差、高频性能受限等问题,面向微弱振动监测的高频化、微型化、集成化传感需求,本文以氮化铝(AlN)压电薄膜为核心,系统开展了薄膜型 SAW 加速度传感器的仿真优化设计、压电薄膜可控制备与表征及器件应用研究。
仿真环节基于有限元法建立了 AlN/Si 层状结构的 SAW 谐振器三维周期模型,系统探究了 AlN 薄膜厚度与器件波长比(h/λ)对谐振频率、有效机电耦合系数(kt²)的调控规律,明确了机电耦合系数随 h/λ 增大呈先升后降的变化趋势,其峰值出现在 h/λ=0.45 处;综合工艺可行性、制备成本与器件性能,最终确定在 Si 衬底上沉积 1μm 厚的 AlN 压电薄膜作为器件核心压电层,并完成了级联双谐振器敏感芯片的设计与频域仿真,实现了温度传感与加速度传感谐振单元的频段有效隔离,为器件制备奠定了坚实的理论基础。实验环节采用射频磁控溅射技术,通过优化溅射功率、衬底温度、反应气体流量等关键工艺参数,在 Si (100) 衬底上成功制备了高 c 轴取向的 AlN 压电薄膜;借助扫描电子显微镜(SEM)、掠入射 X 射线衍射(G-XRD)对薄膜进行系统表征,结果显示制备的 AlN 薄膜表面致密平整、晶粒呈柱状择优生长,具有高强度的(002)晶面衍射峰,具备优异的结晶质量与压电性能适配性。基于该 AlN 压电薄膜完成了叉指电极图形化刻蚀、悬臂梁切割与传感器装配,实现了 AlN 基薄膜型 SAW 加速度传感器的原型器件制备,并通过矢量网络分析仪完成了器件频域响应测试,验证了 AlN 基 SAW 器件较石英基器件具备更高的工作频率与更优的高频应用潜力,同时分析了器件基频模式损耗与高阶谐波响应的内在机制。本研究揭示了 AlN 薄膜结构与工艺参数对 SAW 器件性能的调控规律,完成了 AlN 基薄膜型 SAW 加速度传感器从仿真设计到制备应用的全流程探索,为高频、微型化、集成化薄膜型 SAW 传感器的研发与工程应用提供了理论支撑与技术路径。
关键字
SAW传感器,AlN薄膜,声表面波(SAW)
稿件作者
许章亮
西华师范大学
勾金艳
西华师范大学
傅鑫垚
西华师范大学
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